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Cold-Atom Scanning Probe Microscopy: An Overview

Günther, Andreas; Hölscher, Hendrik; Fortagh, Jozsef



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4665-0509-4
KITopen ID: 1000077084
Erschienen in Fundamentals of Picoscience. Hrsg.: K. Sattler
Verlag CRC Press, London
Seiten 287–302
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