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Gap localization of TE-modes by arbitrarily weak defects

Brown, B. M.; Hoang, V.; Plum, M. 1; Radosz, M.; Wood, I.
1 Institut für Analysis (IANA), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000077421
Veröffentlicht am 08.03.2018
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1112/jlms.12046
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Zitationen: 2
Web of Science
Zitationen: 2
Dimensions
Zitationen: 2
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Analysis (IANA)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0024-6107, 1469-7750
urn:nbn:de:swb:90-774219
KITopen-ID: 1000077421
Erschienen in Journal of the London Mathematical Society
Verlag John Wiley and Sons
Band 95
Heft 3
Seiten 942-962
Nachgewiesen in Scopus
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