KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz
Open Access Logo
§
Verlagsausgabe
DOI: 10.5445/IR/1000077421
Veröffentlicht am 08.03.2018

Gap localization of TE-modes by arbitrarily weak defects

Brown, B. M.; Hoang, V.; Plum, M.; Radosz, M.; Wood, I.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Analysis (IANA)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0024-6107, 1469-7750
URN: urn:nbn:de:swb:90-774219
KITopen ID: 1000077421
Erschienen in Journal of the London Mathematical Society
Band 95
Heft 3
Seiten 942-962
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page