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Low-temperature scanning electron microscopy studies of superconducting thin films and Josephson junctions

Gross, R.; Doderer, T.; Huebener, R. P.; Kober, F.; Koelle, D.; Kruelle, C.; Mannhart, J.; Mayer, B.; Quenter, D.; Ustinov, A.

Abstract:

Scanning techniques represent powerful methods for the characterization of condensed matter. Extending Scanning Electron Microscopy (SEM) to the range of low temperatures an interesting tool for studying low-temperature properties of solids with high-spatial and temporal resolution is obtained. By Low-Temperature Scanning Electron Microscopy (LTSEM) important new information on low-temperature phenomena in superconductors, semiconductors, and insulators is obtained by two-dimensional imaging. Here, we summarize the basic principles of LTSEM and show its application to the study of superconducting films and Josephson junctions.

Zugehörige Institution(en) am KIT Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 02.1991
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0921-4526, 1873-2135
KITopen-ID: 1000078001
Erschienen in Physica / B
Verlag Elsevier
Band 169
Heft 1-4
Seiten 415–421
Nachgewiesen in Scopus
Web of Science
Dimensions
OpenAlex
Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung Ziel 7 – Bezahlbare und saubere Energie

Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/0921-4526(91)90261-C
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Web of Science
Zitationen: 24
Dimensions
Zitationen: 22
Seitenaufrufe: 87
seit 26.05.2018
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