KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Correlated Three-Dimensional Imaging of Dislocations: Insights into the Onset of Thermal Slip in Semiconductor Wafers

Hänschke, D. 1,2; Danilewsky, A.; Helfen, L. 2; Hamann, E. 2; Baumbach, T. 1,2
1 Laboratorium für Applikationen der Synchrotronstrahlung (LAS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1103/PhysRevLett.119.215504
Scopus
Zitationen: 16
Web of Science
Zitationen: 15
Dimensions
Zitationen: 20
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS)
Laboratorium für Applikationen der Synchrotronstrahlung (LAS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 11.2017
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0031-9007, 1079-7114, 1092-0145
KITopen-ID: 1000078083
HGF-Programm 56.03.20 (POF III, LK 01) Nanoscience a.Material f.Inform.Technol.
Erschienen in Physical review letters
Verlag American Physical Society (APS)
Band 119
Heft 21
Seiten Art. Nr.: 215504
Nachgewiesen in Dimensions
Scopus
Web of Science
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page