Correlated Three-Dimensional Imaging of Dislocations: Insights into the Onset of Thermal Slip in Semiconductor Wafers
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Laboratorium für Applikationen der Synchrotronstrahlung (LAS) Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Jahr | 2017 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0031-9007, 1079-7114, 1092-0145 KITopen-ID: 1000078083 |
| HGF-Programm | 56.03.20 (POF III, LK 01) |
| Erschienen in | Physical review letters |
| Band | 119 |
| Heft | 21 |
| Seiten | Art. Nr.: 215504 |
| Nachgewiesen in | Scopus Web of Science |