Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsjahr | 2017 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | KITopen-ID: 1000078137 |
HGF-Programm | 54.02.02 (POF III, LK 01) Ultraschnelle Datenauswertung |
Erschienen in | SPIE Optical Engineering + Applications, 2017, San Diego, California, United States. 6 - 10 August 2017. Ed.: B. Müller |
Verlag | Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (SPIE) |
Seiten | 1039118 |
Serie | Proceedings - Developments in X-Ray Tomography XI ; 10391 |
Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |