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Proximity effect model of ultranarrow NbN strips

Charaev, I.; Silbernagel, T.; Bachowsky, B.; Kuzmin, A.; Doerner, S.; Ilin, K.; Semenov, A.; Roditchev, D.; Vodolazov, D. Yu.; Siegel, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0163-1829, 0556-2805, 1094-1622, 1095-3795, 1098-0121, 1550-235X, 2469-9950, 2469-9969
KITopen ID: 1000078248
Erschienen in Physical review / B
Band 96
Heft 18
Seiten Art.Nr. 184517
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