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Refractive index measurement of suspended cells using opposed-view digital holographic microscopy

Zheng, Juanjuan; Gao, Peng 1,2; Shao, Xiaopeng; Nienhaus, G. Ulrich 1,2,3
1 Institut für Angewandte Physik (APH), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
3 Institut für Toxikologie und Genetik (ITG), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1364/AO.56.009000
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Zitationen: 10
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Zitationen: 9
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Institut für Nanotechnologie (INT)
Institut für Toxikologie und Genetik (ITG)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 11.2017
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0003-6935, 1539-4522, 1559-128X
KITopen-ID: 1000078252
HGF-Programm 43.23.01 (POF III, LK 01) Advanced Optical Lithography+Microscopy
Erschienen in Applied optics
Verlag The Optical Society of America (OSA)
Band 56
Heft 32
Seiten 9000-9005
Nachgewiesen in Scopus
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