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Refractive index measurement of suspended cells using opposed-view digital holographic microscopy

Zheng, Juanjuan; Gao, Peng; Shao, Xiaopeng; Nienhaus, G. Ulrich

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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1364/AO.56.009000
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Zitationen: 8
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Zitationen: 7
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Zitationen: 6
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Institut für Nanotechnologie (INT)
Institut für Toxikologie und Genetik (ITG)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 11.2017
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0003-6935, 1539-4522, 1559-128X
KITopen-ID: 1000078252
HGF-Programm 43.23.01 (POF III, LK 01) Advanced Optical Lithography+Microscopy
Erschienen in Applied optics
Verlag Optical Society of America (OSA)
Band 56
Heft 32
Seiten 9000-9005
Nachgewiesen in Web of Science
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