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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/HOLM.2017.8088097

Interdependency of test environment and current breaking capacity of a model vacuum switch

Feilbach, A.; Menne, H.; Hinrichsen, V.; Hauf, U.; Heilmaier, M.; Böning, M.; Müller, F. E. H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Maschinenbau (MACH)
Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffkunde (IAM-WK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5386-1091-6
KITopen-ID: 1000078392
Erschienen in Proceedings of the 63rd IEEE Holm Conference on Electrical Contacts, Denver, Colorado, USA, 10th - 13th September 2017
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 258-263
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