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Interdependency of test environment and current breaking capacity of a model vacuum switch

Feilbach, A.; Menne, H.; Hinrichsen, V.; Hauf, U.; Heilmaier, M.; Böning, M.; Müller, F.E.H.


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/HOLM.2017.8088097
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Zitationen: 1
Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Maschinenbau (MACH)
Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffkunde (IAM-WK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5386-1091-6
KITopen-ID: 1000078392
Erschienen in Proceedings of the 63rd IEEE Holm Conference on Electrical Contacts, Denver, Colorado, USA, 10th - 13th September 2017
Veranstaltung 63rd IEEE Holm Conference on Electrical Contacts (2017), Denver, CO, USA, 10.09.2017 – 13.09.2017
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 258-263
Nachgewiesen in Dimensions
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