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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/0957-4484/17/1/013
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Zitationen: 13

Characteristics of nanostructured Ag films by the reduction of sputtered AgOₓ thin films

Arai, Tomofumi; Rockstuhl, Carsten; Fons, Paul; Kurihara, Kazuma; Nakano, Takashi; Awazu, Koichi; Tominaga, Junji



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Theoretische Festkörperphysik (TFP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2005
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0957-4484, 1361-6528
KITopen ID: 1000078663
Erschienen in Nanotechnology
Band 17
Heft 1
Seiten 79-82
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