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The Benefits of Real Time Pupil Tracking on the Quality of the B-Scan

Stock, S.; Kubach, S.; Sha, P.; Straub, J.; Stork, W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Poster
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 1000078752
Erschienen in ARVO 2017 in Baltimore, USA
Bemerkung zur Veröffentlichung Poster Presentation 660 - B0407
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