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Verlagsausgabe
DOI: 10.5445/IR/1000078832
Veröffentlicht am 15.01.2018

Seebeck Coefficient Measurements of Polycrystalline and Highly Ordered Metal-Organic Framework Thin Films

Chen, Xin; Wang, Zhengbang; Hassan, Zeinab Mohamed; Lin, Pengtao; Zhang, Kai; Baumgart, Helmut; Redel, Engelbert



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Funktionelle Grenzflächen (IFG)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2162-8769, 2162-8777
URN: urn:nbn:de:swb:90-788325
KITopen ID: 1000078832
HGF-Programm 43.22.01; LK 01
Erschienen in ECS journal of solid state science and technology
Band 6
Heft 4
Seiten P150-P153
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