Frequency measurement of the dielectric properties of semiconductivity layers in XLPE-cables
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2017 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000079352 |
| Erschienen in | 2017 IEEE Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomenon (CEIDP), Fort Worth, TX, October 22 - 25, 2017 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |