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Frequency measurement of the dielectric properties of semiconductivity layers in XLPE-cables

Maier, T.; Leibfried, T.



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seit 05.05.2018
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000079352
Erschienen in 2017 IEEE Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomenon (CEIDP), Fort Worth, TX, October 22 - 25, 2017
Verlag IEEE, Piscataway, NJ
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