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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/978-3-319-06340-9
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Zitationen: 6

Hybrid Fault Tolerance Techniques to Detect Transient Faults in Embedded Processors

Azambuja, José Rodrigo; Kastensmidt, Fernanda; Becker, Jürgen



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Buch
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-319-06339-3
KITopen ID: 1000080258
Verlag Springer International Publishing, Cham
Umfang XVIII, 94 S.
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