Hybrid Fault Tolerance Techniques to Detect Transient Faults in Embedded Processors
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV) |
| Publikationstyp | Buch |
| Jahr | 2014 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-3-319-06339-3 KITopen ID: 1000080258 |
| Verlag | Springer International Publishing, Cham |
| Umfang | XVIII, 94 S. |