Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung (IPF) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsjahr | 2005 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | KITopen-ID: 1000080460 |
Erschienen in | Proceedings of the 10th DBMC International Conference on Durability of Building Materials and Components, Lyon, France, 17th - 20th April 2005 |
Seiten | Art.Nr. TT8-65 |