Testen vernetzter Elektroniksysteme
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2006 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | ISSN: 1862-1791 KITopen-ID: 1000080753 |
| Erschienen in | ATZ-Elektronik |
| Verlag | GWV Fachverlage |
| Band | 1 |
| Heft | 4 |
| Seiten | 26-31 |
| Nachgewiesen in | OpenAlex Dimensions |