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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/BF03223836

Testen vernetzter Elektroniksysteme

Holzenkamp, Christa; Sax, Eric; Walliser, Dirk



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2006
Sprache Deutsch
Identifikator ISSN: 1862-1791
KITopen-ID: 1000080753
Erschienen in ATZ-Elektronik
Band 1
Heft 4
Seiten 26-31
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