Efficient testing by means of test process improvement
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2007 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | ISBN: 978-3-18-092000-9 ISSN: 0083-5560 KITopen-ID: 1000081027 |
| Erschienen in | Proceedings of the 13. Internationaler Kongress: Elektronik im Kraftfahrzeug / Electronic Systems for Vehicles, Tagung Baden-Baden, 10. - 11. Oktober 2007 |
| Verlag | VDI Verlag |
| Seiten | 583-592 |
| Serie | VDI-Berichte ; 2000 |