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Efficient testing by means of test process improvement

Sax, Eric; Hagel, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2007
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-18-092000-9
ISSN: 0083-5560
KITopen ID: 1000081027
Erschienen in Proceedings of the 13. Internationaler Kongress: Elektronik im Kraftfahrzeug / Electronic Systems for Vehicles, Tagung Baden-Baden, 10. - 11. Oktober 2007
Verlag VDI-Verl., Düsseldorf
Seiten 583-592
Serie VDI-Berichte ; 2000
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