Localization Microscopy Based Super-resolution Imaging and Analysis of Dynamics
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Physik (APH) |
| Publikationstyp | Hochschulschrift |
| Publikationsjahr | 2018 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | urn:nbn:de:swb:90-811322 KITopen-ID: 1000081132 |
| Verlag | Karlsruher Institut für Technologie (KIT) |
| Umfang | 128 S. |
| Art der Arbeit | Dissertation |
| Fakultät | Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik (ETIT) |
| Institut | Institut für Angewandte Physik (APH) |
| Prüfungsdatum | 14.03.2018 |
| Referent/Betreuer | Lemmer, U. |