| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI) |
| Publikationstyp | Poster |
| Publikationsjahr | 2017 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000081429 |
| HGF-Programm | 43.22.03 (POF III, LK 01) Printed Materials and Systems |
| Veranstaltung | Columbia-U.S. Workshop on Nanoechnology in Characterization, Metrology, Manufacturing and Safety, Bogota, CO, February 14-15, 2017 |