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DaNa2.0 – Knowledge Base Nanomaterials: Quality-approved and reliable information on synthetically engineered nanomaterials

Marquardt, C. ORCID iD icon; Nau, K. ORCID iD icon; Krug, H. F.; Bohmer, N.; Kuehnel, D.; Reithel, S.; Paul, F.; Steinbach, C.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI)
Publikationstyp Poster
Publikationsjahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000081429
HGF-Programm 43.22.03 (POF III, LK 01) Printed Materials and Systems
Veranstaltung Columbia-U.S. Workshop on Nanoechnology in Characterization, Metrology, Manufacturing and Safety, Bogota, CO, February 14-15, 2017
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