Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI) |
Publikationstyp | Poster |
Publikationsjahr | 2017 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | KITopen-ID: 1000081429 |
HGF-Programm | 43.22.03 (POF III, LK 01) Printed Materials and Systems |
Veranstaltung | Columbia-U.S. Workshop on Nanoechnology in Characterization, Metrology, Manufacturing and Safety, Bogota, CO, February 14-15, 2017 |