Oxide-free aC/Zr0.65 Al0.075 Cu0.275/aC phase plates for transmission electron microscopy
Dries, M. 1; Obermair, M. 1; Hettler, S. 1; Hermann, P. 1; Seemann, K.
2; Seifried, F. 2; Ulrich, S. 2; Fischer, R. 3; Gerthsen, D. 1
1 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Angewandte Materialien (IAM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
3 Institut für Physikalische Chemie (IPC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2; Seifried, F. 2; Ulrich, S. 2; Fischer, R. 3; Gerthsen, D. 11 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Angewandte Materialien (IAM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
3 Institut für Physikalische Chemie (IPC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien – Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP) Institut für Physikalische Chemie (IPC) Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 06.2018 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0304-3991, 1879-2723 KITopen-ID: 1000081620 |
| HGF-Programm | 43.22.01 (POF III, LK 01) Functionality by Design |
| Erschienen in | Ultramicroscopy |
| Verlag | Elsevier |
| Band | 189 |
| Seiten | 39–45 |
| Vorab online veröffentlicht am | 06.03.2018 |
| Nachgewiesen in | Web of Science Dimensions Scopus |