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Oxide-free aC/Zr0.65 Al0.075 Cu0.275/aC phase plates for transmission electron microscopy

Dries, M.; Obermair, M.; Hettler, S.; Hermann, P.; Seemann, K.; Seifried, F.; Ulrich, S.; Fischer, R.; Gerthsen, D.



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seit 23.05.2018
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Physikalische Chemie (IPC)
Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Institut für Angewandte Materialien - Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0304-3991, 1879-2723
KITopen-ID: 1000081620
HGF-Programm 43.22.01 (POF III, LK 01)
Erschienen in Ultramicroscopy
Band 189
Seiten 39–45
Vorab online veröffentlicht am 06.03.2018
Nachgewiesen in Web of Science
Scopus
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