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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.ultramic.2018.03.003

Oxide-free aC/Zr0.65 Al0.075 Cu0.275/aC phase plates for transmission electron microscopy

Dries, M.; Obermair, M.; Hettler, S.; Hermann, P.; Seemann, K.; Seifried, F.; Ulrich, S.; Fischer, R.; Gerthsen, D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP)
Institut für Physikalische Chemie (IPC)
Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0304-3991, 1879-2723
KITopen ID: 1000081620
HGF-Programm 43.22.01; LK 01
Erschienen in Ultramicroscopy
Band 189
Seiten 39–45
Vorab online veröffentlicht am 06.03.2018
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