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Towards a modular security testing framework for industrial automation and control systems : ISuTest

Pfrang, Steffen; Meier, David; Kautz, Valentin 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ETFA.2017.8247727
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Zitationen: 10
Dimensions
Zitationen: 6
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Telematik (TM)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5090-6505-9
KITopen-ID: 1000081633
Erschienen in Proceedings of the 22nd IEEE International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation, Limassol, Cyprus, 12th - 15th September 2017
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 1-5
Nachgewiesen in Dimensions
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