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Studie zur Strahlenhärte von n-in-p Siliziumstreifensensoren für das Phase-2-upgrade des CMS-Experiments

Müller, Thomas; Dierlamm, Alexander ORCID iD icon; Metzler, Marius; Gosewisch, Jan-Ole; Steck, Pia; Bögelspacher, Felix


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Experimentelle Teilchenphysik (ETP)
Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsmonat/-jahr 03.2018
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 1000082186
Veranstaltung DPG-Frühjahrstagung der Sektion Materie und Kosmos (SMuK), Fachverband Teilchenphysik (2018), Würzburg, Deutschland, 19.03.2018 – 23.03.2018
Bemerkung zur Veröffentlichung Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, R.6, B.53(2018) T 66.2
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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