KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Post Silicon Debugging of Electrical Bugs Using Trace Buffers

Iwat, Kentaro; Gharehbaghi, Amir Masoud; Tahoori, Mehdi B.; Fujita, Masahiro



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5386-2436-4
KITopen ID: 1000082260
Erschienen in Proceedings of the 26th Asian Test Symposium, Taipei, Taiwan, 27th - 30th November 2017
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 184-189
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page