Post Silicon Debugging of Electrical Bugs Using Trace Buffers
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2017 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-5386-2436-4 KITopen-ID: 1000082260 |
| Erschienen in | Proceedings of the 26th Asian Test Symposium, Taipei, Taiwan, 27th - 30th November 2017 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 184-189 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |