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Post Silicon Debugging of Electrical Bugs Using Trace Buffers

Iwat, Kentaro; Gharehbaghi, Amir Masoud; Tahoori, Mehdi B.; Fujita, Masahiro



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ATS.2017.44
Dimensions
Zitationen: 3
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5386-2436-4
KITopen-ID: 1000082260
Erschienen in Proceedings of the 26th Asian Test Symposium, Taipei, Taiwan, 27th - 30th November 2017
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 184-189
Nachgewiesen in Scopus
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