KIT | KIT-Bibliothek | Impressum
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/CEIDP.2017.8257531

Frequency measurement of the dielectric properties of semiconductive layers in XLPE-cables

Maier, Tobias; Leibfried,Thomas



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5386-1194-4
KITopen ID: 1000082261
Erschienen in Proceedings of the Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomenon, CEIDP 2017, Fort Worth, Texas, USA, 22th - 25th October 2017
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 692-695
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page