Frequency measurement of the dielectric properties of semiconductive layers in XLPE-cables
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2018 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-5386-1194-4 KITopen-ID: 1000082261 |
| Erschienen in | Proceedings of the Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomenon, CEIDP 2017, Fort Worth, Texas, USA, 22th - 25th October 2017 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 692-695 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |