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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/CEIDP.2017.8257530

Frequency-measurement-setup for semiconductive layers

Maier, Tobias; Leibfried, Thomas



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5386-1194-4
KITopen ID: 1000082262
Erschienen in Proceedings of the Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomenon, CEIDP 2017, Fort Worth, Texas, USA, 22th - 25th October 2017
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 687-691
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