Frequency-measurement-setup for semiconductive layers
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seit 17.05.2018
seit 17.05.2018
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Jahr | 2018 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-5386-1194-4 KITopen-ID: 1000082262 |
| Erschienen in | Proceedings of the Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomenon, CEIDP 2017, Fort Worth, Texas, USA, 22th - 25th October 2017 |
| Verlag | IEEE, Piscataway (NJ) |
| Seiten | 687-691 |
| Nachgewiesen in | Scopus |