Electromigration-Induced Surface Drift and Slit Propagation in Polycrystalline Interconnects : Insights from Phase-Field Simulations
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien – Computational Materials Science (IAM-CMS) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2018 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 2331-7019 KITopen-ID: 1000082292 |
| Erschienen in | Physical review applied |
| Verlag | American Physical Society (APS) |
| Band | 9 |
| Heft | 4 |
| Seiten | Art.Nr. 044004 |
| Vorab online veröffentlicht am | 04.04.2018 |
| Nachgewiesen in | Web of Science Dimensions Scopus |