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Counter-current injection-assisted IGCT turn-off testing

Sander, Rene 1; Gmeiner, Daniel 1; Suriyah, Michael 1; Leibfried, Thomas 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/PEDS.2017.8289266
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Zitationen: 2
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5090-2364-6
KITopen-ID: 1000082304
HGF-Programm 37.06.01 (POF III, LK 01) Networks and Storage Integration
Erschienen in 2017 IEEE 12th International Conference on Power Electronics and Drive Systems (PEDS), Honolulu, Hawaii, USA, 12th - 15th December 2017
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 424-428
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