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Counter-current injection-assisted IGCT turn-off testing

Sander, Rene; Gmeiner, Daniel; Suriyah, Michael; Leibfried, Thomas



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/PEDS.2017.8289266
Seitenaufrufe: 8
seit 01.06.2018
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5090-2364-6
KITopen-ID: 1000082304
HGF-Programm 37.06.01 (POF III, LK 01)
Erschienen in 2017 IEEE 12th International Conference on Power Electronics and Drive Systems (PEDS), Honolulu, Hawaii, USA, 12th - 15th December 2017
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 424-428
Nachgewiesen in Scopus
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