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Multicast Testing of Interposer-Based 2.5D ICs : Test-Architecture Design and Test Scheduling

Wang, Shengcheng; Wang, Ran; Chakrabarty, Krishnendu; Tahoori, Mehdi Baradaran



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1084-4309, 1557-7309
KITopen ID: 1000082490
Erschienen in ACM transactions on design automation of electronic systems
Band 23
Heft 3
Seiten Art.Nr. 35
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