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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TEST.2017.8242063
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Zitationen: 1

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Elnaggar, Rana; Chakrabarty, Krishnendu; Tahoori, Mehdi B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5386-3413-4
KITopen ID: 1000082721
Erschienen in Proceedings of the International Test Conference 2017, Fort Worth, Texas USA, 31st October - 2nd November 2017
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 1-10
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