Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsjahr | 2017 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISBN: 978-1-5386-3413-4 KITopen-ID: 1000082721 |
Erschienen in | Proceedings of the International Test Conference 2017, Fort Worth, Texas USA, 31st October - 2nd November 2017 |
Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
Seiten | 1-10 |
Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |