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Exemplar-based inpainting as a solution to the missing wedge problem in electron tomography

Trampert, Patrick; Wang, Wu; Chen, Delei; Ravelli, Raimond B.G.; Dahmen, Tim; Peters, Peter J.; Kübel, Christian; Slusallek, Philipp



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Helmholtz-Institut Ulm (HIU)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0304-3991
KITopen-ID: 1000082799
HGF-Programm 49.02.01 (POF III, LK 02)
Erschienen in Ultramicroscopy
Band 191
Seiten 1–10
Nachgewiesen in Web of Science
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