Exemplar-based inpainting as a solution to the missing wedge problem in electron tomography
Trampert, Patrick; Wang, Wu 1; Chen, Delei; Ravelli, Raimond B. G.; Dahmen, Tim; Peters, Peter J.; Kübel, Christian
1,2,3; Slusallek, Philipp
1 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
3 Center for Electrochemical Energy Storage Ulm & Karlsruhe (CELEST), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1,2,3; Slusallek, Philipp1 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
3 Center for Electrochemical Energy Storage Ulm & Karlsruhe (CELEST), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Helmholtz-Institut Ulm (HIU) Institut für Nanotechnologie (INT) Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 08.2018 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0304-3991 KITopen-ID: 1000082799 |
| HGF-Programm | 49.02.01 (POF III, LK 02) INT-KNMF Characterisation Lab |
| Weitere HGF-Programme | 37.01.01 (POF III, LK 01) Fundamentals and Materials |
| Erschienen in | Ultramicroscopy |
| Verlag | Elsevier |
| Band | 191 |
| Seiten | 1–10 |
| Nachgewiesen in | Web of Science Scopus Dimensions |