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Automated Visual Inspection and Machine Vision II : 29 June 2017, Munich, Germany

Beyerer, Jürgen [Hrsg.]; Puente León, Fernando [Hrsg.]



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Proceedingsband
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5106-1113-9
ISSN: 0277-786X
KITopen ID: 1000083016
Verlag SPIE, Bellingham, WA
Umfang ca. 240 verschieden gezählte S.
Serie Proceedings of SPIE ; 10334
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