Automated Visual Inspection and Machine Vision II : 29 June 2017, Munich, Germany
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT) |
| Publikationstyp | Proceedingsband |
| Publikationsjahr | 2017 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-5106-1113-9 ISSN: 0277-786X KITopen-ID: 1000083016 |
| Verlag | Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (SPIE) |
| Umfang | ca. 240 verschieden gezählte S. |
| Serie | Proceedings of SPIE ; 10334 |