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A computationally inexpensive model for estimating dimensional measurement uncertainty due to x-ray computed tomography instrument misalignments

Ametova, Evelina; Ferrucci, Massimiliano; Chilingaryan, Suren; Dewulf, Wim



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0957-0233, 1361-6501
KITopen ID: 1000083205
HGF-Programm 54.02.02; LK 01
Erschienen in Measurement science and technology
Band 29
Heft 6
Seiten Art. Nr.: 065007
Vorab online veröffentlicht am 19.04.2018
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