A computationally inexpensive model for estimating dimensional measurement uncertainty due to x-ray computed tomography instrument misalignments
Ametova, Evelina; Ferrucci, Massimiliano; Chilingaryan, Suren
1; Dewulf, Wim
1 Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Dewulf, Wim1 Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 06.2018 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0957-0233, 1361-6501 KITopen-ID: 1000083205 |
| HGF-Programm | 54.02.02 (POF III, LK 01) Ultraschnelle Datenauswertung |
| Erschienen in | Measurement science and technology |
| Verlag | Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd) |
| Band | 29 |
| Heft | 6 |
| Seiten | Art. Nr.: 065007 |
| Vorab online veröffentlicht am | 19.04.2018 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions Web of Science |
| Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung |