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Verlagsausgabe
DOI: 10.5445/IR/1000083372
Veröffentlicht am 12.06.2018

Correlating the nanostructure of Al-oxide with deposition conditions and dielectric contributions of two-level systems in perspective of superconducting quantum circuits

Fritz, S.; Seiler, A.; Radtke, L.; Schneider, R.; Weides, M.; Weiß, G.; Gerthsen, D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2045-2322
URN: urn:nbn:de:swb:90-833724
KITopen ID: 1000083372
Erschienen in Scientific reports
Band 8
Heft 1
Seiten 7956/1-11
Vorab online veröffentlicht am 21.05.2018
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