Fine-Grained Aging-Induced Delay Prediction Based on the Monitoring of Run-Time Stress
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 05.2018 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0278-0070, 1937-4151 KITopen-ID: 1000083405 |
| Erschienen in | IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Band | 37 |
| Heft | 5 |
| Seiten | 1064–1075 |
| Vorab online veröffentlicht am | 24.10.2016 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus Web of Science |