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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TCAD.2016.2620903
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Zitationen: 1

Fine-Grained Aging-Induced Delay Prediction Based on the Monitoring of Run-Time Stress

Vijayan, Arunkumar; Koneru, Abhishek; Kiamehr, Saman; Chakrabarty, Krishnendu; Tahoori, Mehdi B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0278-0070, 1937-4151
KITopen ID: 1000083405
Erschienen in IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems
Band 37
Heft 5
Seiten 1064–1075
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