Testbeam results of irradiated ams H18 HV-CMOS pixel sensor prototypes
Benoit, M.; Braccini, S.; Casse, G.; Chen, H.; Chen, K.; Bello, F. A. Di; Ferrere, D.; Golling, T.; Gonzalez-Sevilla, S.; Iacobucci, G.; Kiehn, M.; Lanni, F.; Liu, H.; Meng, L.; Merlassino, C.; Miucci, A.; Muenstermann, D.; Nessi, M.; Okawa, H.;
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2018 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1748-0221 urn:nbn:de:swb:90-834231 KITopen-ID: 1000083423 |
| HGF-Programm | 54.02.03 (POF III, LK 01) ASICs und Integrationstechnologien |
| Erschienen in | Journal of Instrumentation |
| Verlag | Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd) |
| Band | 13 |
| Heft | 02 |
| Seiten | P02011 |
| Vorab online veröffentlicht am | 08.02.2018 |
| Nachgewiesen in | Web of Science Scopus Dimensions |