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Verlagsausgabe
DOI: 10.5445/IR/1000083423
Veröffentlicht am 13.06.2018
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/1748-0221/13/02/P02011
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Zitationen: 2

Testbeam results of irradiated ams H18 HV-CMOS pixel sensor prototypes

Benoit, M.; Braccini, S.; Casse, G.; Chen, H.; Chen, K.; Bello, F.A. Di; Ferrere, D.; Golling, T.; Gonzalez-Sevilla, S.; Iacobucci, G.; Kiehn, M.; Lanni, F.; Liu, H.; Meng, L.; Merlassino, C.; Miucci, A.; Muenstermann, D.; Nessi, M.; Okawa, H.; Perić, I.; ... mehr



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1748-0221
URN: urn:nbn:de:swb:90-834231
KITopen ID: 1000083423
HGF-Programm 54.02.03; LK 01
Erschienen in Journal of Instrumentation
Band 13
Heft 02
Seiten P02011
Vorab online veröffentlicht am 08.02.2018
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