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On the Progress of Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) Imaging in a Scanning Electron Microscope

Sun, Cheng; Müller, Erich; Meffert, Matthias; Gerthsen, Dagmar



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1431-9276, 1435-8115
KITopen ID: 1000083449
Erschienen in Microscopy and microanalysis
Band 24
Heft 2
Seiten 99–106
Vorab online veröffentlicht am 28.03.2018
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