Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK) |
Publikationstyp | Poster |
Publikationsjahr | 2018 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | KITopen-ID: 1000083475 |
HGF-Programm | 49.02.08 (POF III, LK 02) Atom probe tomography |
Veranstaltung | Atom Probe Tomography and Microscopy (APT&M) 2018 and 56th Meeting of the International Field Emission Society (IFES), Gaithersburg, MD, June 10-15, 2018 |