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Ordering in Al-containing Refractory High Entropy Alloys Analyzed by Complemental Microstructure Characterization Techniques

Seils, Sascha; Chen, Hans; Szabo, D. V. ORCID iD icon; Harding, Ian; Kumar, Sharvan; Kauffmann-Weiss, Sandra; Boll, Torben ORCID iD icon; Kauffmann, Alexander; Kauffmann, Alexander; Heilmaier, Martin


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000083476
HGF-Programm 49.02.08 (POF III, LK 02) Atom probe tomography
Veranstaltung Atom Probe Tomography and Microscopy (APT&M) 2018 and 56th Meeting of the International Field Emission Society (IFES), Gaithersburg, MD, June 10-15, 2018
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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