Advanced Atomic Force Microscopy: 3D Printed Micro-Optomechanical Sensor Systems
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Physik (APH) |
| Publikationstyp | Hochschulschrift |
| Publikationsjahr | 2018 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | urn:nbn:de:swb:90-835162 KITopen-ID: 1000083516 |
| Verlag | Karlsruher Institut für Technologie (KIT) |
| Umfang | III, 145 S. |
| Art der Arbeit | Dissertation |
| Fakultät | Fakultät für Physik (PHYSIK) |
| Institut | Institut für Angewandte Physik (APH) |
| Prüfungsdatum | 02.02.2018 |
| Referent/Betreuer | Schimmel, T. |