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Advanced Atomic Force Microscopy: 3D Printed Micro-Optomechanical Sensor Systems

Göring, Gerald

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Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000083516
Frei zugänglich ab 01.04.2020
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Publikationstyp Hochschulschrift
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator urn:nbn:de:swb:90-835162
KITopen-ID: 1000083516
Verlag KIT, Karlsruhe
Umfang III, 145 S.
Abschlussart Dissertation
Fakultät Fakultät für Physik (PHYSIK)
Institut Institut für Angewandte Physik (APH)
Prüfungsdatum 02.02.2018
Referent/Betreuer Prof. T. Schimmel
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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