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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1515/teme-2017-0053
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Zitationen: 3

Considering spectral variability for optical material abundance estimation

Krippner, Wolfgang; Bauer, Sebastian; Puente León, Fernando



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0171-8096, 2196-7113
KITopen ID: 1000083756
Erschienen in Technisches Messen
Band 85
Heft 3
Seiten 149–158
Vorab online veröffentlicht am 10.08.2017
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