Weighted time lag plot defect parameter extraction and GPU-based BTI modeling for BTI variability
Van Santen, Victor M.
1; Diaz-Fortuny, J.; Amrouch, Hussam 1; Martin-Martinez, J.; Rodriguez, R.; Castro-Lopez, R.; Roca, E.; Fernandez, F. V.; Henkel, J. 1; Nafria, M.
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Diaz-Fortuny, J.; Amrouch, Hussam 1; Martin-Martinez, J.; Rodriguez, R.; Castro-Lopez, R.; Roca, E.; Fernandez, F. V.; Henkel, J. 1; Nafria, M.1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2018 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-5386-5479-8 ISSN: 1541-7026 KITopen-ID: 1000083788 |
| Erschienen in | 2018 IEEE International Reliability Physics Symposium, IRPS 2018; Burlingame; United States; 11 March 2018 through 15 March 2018 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | PCR.61-PCR.66 |
| Serie | IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings ; 2018-March |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |