KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/IRPS.2018.8353659

Weighted time lag plot defect parameter extraction and GPU-based BTI modeling for BTI variability

Van Santen, Victor M.; Diaz-Fortuny, J.; Amrouch, Hussam; Martin-Martinez, J.; Rodriguez, R.; Castro-Lopez, R.; Roca, E.; Fernandez, F. V.; Henkel, J.; Nafria, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5386-5479-8
ISSN: 1541-7026
KITopen ID: 1000083788
Erschienen in 2018 IEEE International Reliability Physics Symposium, IRPS 2018; Burlingame; United States; 11 March 2018 through 15 March 2018
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten PCR.61-PCR.66
Serie IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings ; 2018-March
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page