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Weighted time lag plot defect parameter extraction and GPU-based BTI modeling for BTI variability

Van Santen, Victor M. ORCID iD icon 1; Diaz-Fortuny, J.; Amrouch, Hussam 1; Martin-Martinez, J.; Rodriguez, R.; Castro-Lopez, R.; Roca, E.; Fernandez, F. V.; Henkel, J. 1; Nafria, M.
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/IRPS.2018.8353659
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Zitationen: 8
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Zitationen: 8
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5386-5479-8
ISSN: 1541-7026
KITopen-ID: 1000083788
Erschienen in 2018 IEEE International Reliability Physics Symposium, IRPS 2018; Burlingame; United States; 11 March 2018 through 15 March 2018
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten PCR.61-PCR.66
Serie IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings ; 2018-March
Nachgewiesen in Dimensions
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