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Reliable memory PUF design for low-power applications

Golanbari, Mohammad Saber; Kiamehr, Saman; Bishnoi, Rajendra; Tahoori, Mehdi Baradaran



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ISQED.2018.8357289
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5386-1214-9
ISSN: 1948-3287
KITopen-ID: 1000083941
Erschienen in 19th International Symposium on Quality Electronic Design, ISQED 2018; Santa Clara Convention CenterSanta Clara; United States; 13 March 2018 through 14 March 2018
Verlag IEEE Computer Society, Washington (D.C.)
Seiten 207-213
Serie Proceedings - International Symposium on Quality Electronic Design, ISQED ; 2018-March
Nachgewiesen in Scopus
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