KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Connected Testbeds – Early Validation in a Distributed Development Environment

Nickel, David; Behrendt, Matthias; Bause, Katharina; Albers, Albert



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-658-21194-3
KITopen ID: 1000084039
Erschienen in 18. Internationales Stuttgarter Symposium: Automobil- und Motorentechnik. Hrsg.: Michael Bargende, Hans-Christian Reuss, Jochen Wiedemann
Verlag Springer Vieweg, Wiesbaden
Seiten 1173-1185
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page