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Connected Testbeds – Early Validation in a Distributed Development Environment

Nickel, David; Behrendt, Matthias; Bause, Katharina; Albers, Albert


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-658-21194-3
KITopen-ID: 1000084039
Erschienen in 18. Internationales Stuttgarter Symposium: Automobil- und Motorentechnik. Hrsg.: Michael Bargende, Hans-Christian Reuss, Jochen Wiedemann
Verlag Vieweg Verlag
Seiten 1173-1185
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