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Electron-beam broadening in amorphous carbon films in low-energy scanning transmission electron microscopy

Drees, H.; Müller, E.; Dries, M.; Gerthsen, D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0304-3991
KITopen ID: 1000084086
Erschienen in Ultramicroscopy
Band 185
Seiten 65–71
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