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Electron-beam broadening in amorphous carbon films in low-energy scanning transmission electron microscopy

Drees, H. 1; Müller, E. ORCID iD icon 1; Dries, M. 1; Gerthsen, D. 1
1 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.ultramic.2017.11.005
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Zitationen: 6
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Zitationen: 7
Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 02.2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0304-3991
KITopen-ID: 1000084086
Erschienen in Ultramicroscopy
Verlag Elsevier
Band 185
Seiten 65–71
Nachgewiesen in Scopus
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