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Online Soft-Error Vulnerability Estimation for Memory Arrays and Logic Cores

Vijayan, Arunkumar 1; Kiamehr, Saman 1; Ebrahimi, Mojtaba 1; Chakrabarty, Krishnendu; Tahoori, Mehdi B. 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TCAD.2017.2706558
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Zitationen: 10
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Zitationen: 10
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Institut für Toxikologie und Genetik (ITG)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 02.2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0278-0070, 1937-4151
KITopen-ID: 1000084089
Erschienen in IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Band 37
Heft 2
Seiten 499–511
Vorab online veröffentlicht am 19.05.2017
Nachgewiesen in Web of Science
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