Online Soft-Error Vulnerability Estimation for Memory Arrays and Logic Cores

Vijayan, Arunkumar ¹; Kiamehr, Saman ¹; Ebrahimi, Mojtaba ¹; Chakrabarty, Krishnendu; Tahoori, Mehdi B. ¹
¹ Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TCAD.2017.2706558

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Technische Informatik (ITEC) Institut für Toxikologie und Genetik (ITG)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr	02.2018
Sprache	Englisch
Identifikator	ISSN: 0278-0070, 1937-4151 KITopen-ID: 1000084089
Erschienen in	IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems
Verlag	Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Band	37
Heft	2
Seiten	499–511
Vorab online veröffentlicht am	19.05.2017
Nachgewiesen in	Dimensions Web of Science Scopus