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A Survey on Artifacts from CoNEXT, ICN, IMC, and SIGCOMM Conferences in 2017

Flittner, Matthias; Mahfoudi, Mohamed Naoufal; Saucez, Damien; Wählisch, Matthias; Iannone, Luigi; Bajpai, Vaibhav; Afanasyev, Alex



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Telematik (TM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0146-4833
KITopen ID: 1000084204
Erschienen in ACM SIGCOMM computer communication review
Band 48
Heft 1
Seiten 75–80
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