Characterization of a submicro-X-ray fluorescence setup on the B16 beamline at Diamond Light Source

Rauwolf, M.; Turyanskaya, A.; Ingerle, D.; Szoboszlai, N.; Pape, I.; Malandain, A. W.; Fox, O. J. L.; Hahn, L.; Sawhney, K. J. S.; Streli, C.

doi:10.1107/S1600577518006203

Characterization of a submicro-X-ray fluorescence setup on the B16 beamline at Diamond Light Source

Rauwolf, M.; Turyanskaya, A.; Ingerle, D.; Szoboszlai, N.; Pape, I.; Malandain, A. W.; Fox, O. J. L.; Hahn, L. ¹; Sawhney, K. J. S.; Streli, C.
¹ Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

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DOI: 10.5445/IR/1000084262

Veröffentlicht am 06.07.2018

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr	07.2018
Sprache	Englisch
Identifikator	ISSN: 1600-5775 urn:nbn:de:swb:90-842621 KITopen-ID: 1000084262
HGF-Programm	49.01.02 (POF III, LK 02) IMT-KNMF Structuring Lab
Erschienen in	Journal of synchrotron radiation
Verlag	International Union of Crystallography
Band	25
Heft	4
Seiten	1189–1195
Vorab online veröffentlicht am	13.06.2018
Nachgewiesen in	Web of Science Dimensions Scopus

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Characterization of a submicro-X-ray fluorescence setup on the B16 beamline at Diamond Light Source