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Characterization of a submicro-X-ray fluorescence setup on the B16 beamline at Diamond Light Source

Rauwolf, M.; Turyanskaya, A.; Ingerle, D.; Szoboszlai, N.; Pape, I.; Malandain, A. W.; Fox, O. J. L.; Hahn, L. 1; Sawhney, K. J. S.; Streli, C.
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000084262
Veröffentlicht am 06.07.2018
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1107/S1600577518006203
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Zitationen: 7
Web of Science
Zitationen: 6
Dimensions
Zitationen: 6
BibTeX (UTF-8) BibTeX (ASCII) EndNote/Refer (.enw) RIS CSL-JSON ISI
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 07.2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1600-5775
urn:nbn:de:swb:90-842621
KITopen-ID: 1000084262
HGF-Programm 49.01.02 (POF III, LK 02) IMT-KNMF Structuring Lab
Erschienen in Journal of synchrotron radiation
Verlag International Union of Crystallography
Band 25
Heft 4
Seiten 1189–1195
Vorab online veröffentlicht am 13.06.2018
Nachgewiesen in OpenAlex
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