KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Charging of carbon thin films in scanning and phase-plate transmission electron microscopy

Hettler, Simon 1; Kano, Emi; Dries, Manuel 1; Gerthsen, Dagmar 1; Pfaffmann, Lukas 2; Bruns, Michael 2; Beleggia, Marco; Malac, Marek
1 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Angewandte Materialien – Energiespeichersysteme (IAM-ESS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Download
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.ultramic.2017.09.009
Scopus
Zitationen: 31
Web of Science
Zitationen: 28
Dimensions
Zitationen: 37
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien – Energiespeichersysteme (IAM-ESS)
Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 01.2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0304-3991
KITopen-ID: 1000084329
Erschienen in Ultramicroscopy
Verlag Elsevier
Band 184
Seiten 252–266
Schlagwörter 2014-013-005432 XPS
Nachgewiesen in Scopus
Dimensions
Web of Science
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page