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Charging of carbon thin films in scanning and phase-plate transmission electron microscopy

Hettler, Simon; Kano, Emi; Dries, Manuel; Gerthsen, Dagmar; Pfaffmann, Lukas; Bruns, Michael; Beleggia, Marco; Malac, Marek

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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.ultramic.2017.09.009
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Zitationen: 14
Web of Science
Zitationen: 12
Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Institut für Angewandte Materialien - Energiespeichersysteme (IAM-ESS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0304-3991
KITopen-ID: 1000084329
Erschienen in Ultramicroscopy
Band 184
Seiten 252–266
Schlagworte 2014-013-005432 XPS
Nachgewiesen in Web of Science
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