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Charging of carbon thin films in scanning and phase-plate transmission electron microscopy

Hettler, Simon 1; Kano, Emi; Dries, Manuel 1; Gerthsen, Dagmar 1; Pfaffmann, Lukas 2; Bruns, Michael 2; Beleggia, Marco; Malac, Marek
1 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Angewandte Materialien – Energiespeichersysteme (IAM-ESS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.ultramic.2017.09.009
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Zitationen: 33
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien – Energiespeichersysteme (IAM-ESS)
Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 01.2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0304-3991
KITopen-ID: 1000084329
Erschienen in Ultramicroscopy
Verlag Elsevier
Band 184
Seiten 252–266
Schlagwörter 2014-013-005432 XPS
Nachgewiesen in Web of Science
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