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RF Probe-Induced On-Wafer Measurement Errors in the Millimeter-Wave Frequency Range

Müller, Daniel

Abstract (englisch):
Measurement at millimeter-wave frequencies are prone to parasitic effects which distort the overall results. Especially the use of RF probes introduces unknown distortions, even after the measurement setup is calibrated. This works investigates these distortions based on electromagnetic field simulations of integrated circuits in conjunction with models of the used RF probes. This allows to comprehend the observed distortions and successfully resolve the root of the distortions.

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DOI: 10.5445/KSP/1000084392
Veröffentlicht am 14.11.2018
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Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-7315-0822-9
ISSN: 1868-4696
KITopen-ID: 1000084392
Verlag KIT Scientific Publishing, Karlsruhe
Umfang XII, 180 S.
Serie Karlsruher Forschungsberichte aus dem Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik ; 89
Abschlussart Dissertation
Fakultät Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik (ETIT)
Institut Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE)
Prüfungsdatum 06.06.2018
Referent/Betreuer Prof. I. Kallfass
Schlagwörter Halbleiterschaltungen, Messtechnik, Hochfrequenztechnik, Elektromagnetische Feldsimulation, Monolithic Microwave Integrated Circuits, Radio Frequency, On-Wafer Measurements, Electromagnetic Field Simulation
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