RF Probe-Induced On-Wafer Measurement Errors in the Millimeter-Wave Frequency Range
Abstract (englisch):
Measurement at millimeter-wave frequencies are prone to parasitic effects which distort the overall results. Especially the use of RF probes introduces unknown distortions, even after the measurement setup is calibrated. This works investigates these distortions based on electromagnetic field simulations of integrated circuits in conjunction with models of the used RF probes. This allows to comprehend the observed distortions and successfully resolve the root of the distortions.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE) |
| Publikationstyp | Hochschulschrift |
| Publikationsjahr | 2018 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-3-7315-0822-9 ISSN: 1868-4696 urn:nbn:de:0072-843922 KITopen-ID: 1000084392 |
| Verlag | KIT Scientific Publishing |
| Umfang | XII, 180 S. |
| Serie | Karlsruher Forschungsberichte aus dem Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik ; 89 |
| Art der Arbeit | Dissertation |
| Fakultät | Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik (ETIT) |
| Institut | Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE) |
| Prüfungsdatum | 06.06.2018 |
| Schlagwörter | Halbleiterschaltungen, Messtechnik, Hochfrequenztechnik, Elektromagnetische Feldsimulation,, Monolithic Microwave Integrated Circuits, Radio Frequency, On-Wafer Measurements, Electromagnetic Field Simulation |
| Referent/Betreuer | Kallfass, I. |