KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Parametric failure modeling and yield analysis for STT-MRAM

Nair, Sarath Mohanachandran 1; Bishnoi, Rajendra 1; Tahoori, Mehdi B. 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.23919/DATE.2018.8342016
Scopus
Zitationen: 6
Dimensions
Zitationen: 6
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsmonat/-jahr 03.2018
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-9819263-0-9
KITopen-ID: 1000084459
Erschienen in Proceedings of the 2018 Design, Automation & Test in Europe (DATE) : 19-23 March 2018, Dresden, Germany. Ed.: J. Madsen
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 265–268
Nachgewiesen in Dimensions
Scopus
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page