Parametric failure modeling and yield analysis for STT-MRAM
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsmonat/-jahr | 03.2018 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-3-9819263-0-9 KITopen-ID: 1000084459 |
| Erschienen in | Proceedings of the 2018 Design, Automation & Test in Europe (DATE) : 19-23 March 2018, Dresden, Germany. Ed.: J. Madsen |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 265–268 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |