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Originalveröffentlichung
DOI: 10.23919/DATE.2018.8342016

Parametric failure modeling and yield analysis for STT-MRAM

Nair, Sarath Mohanachandran; Bishnoi, Rajendra; Tahoori, Mehdi B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-9819263-0-9
KITopen ID: 1000084459
Erschienen in Proceedings of the 2018 Design, Automation & Test in Europe (DATE) : 19-23 March 2018, Dresden, Germany. Ed.: J. Madsen
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 265–268
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