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Defect studies of hydrogen-loaded thin Nb films

Čížek, J.; Procházka, I.; Brauer, G.; Anwand, W.; Mücklich, A.; Kirchheim, R.; Pundt, A.; Bähtz, C.; Knapp, M.

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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.apsusc.2005.08.081
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Zitationen: 12
Web of Science
Zitationen: 10
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffkunde (IAM-WK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2006
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0169-4332
KITopen-ID: 1000084572
Erschienen in Applied surface science
Band 252
Heft 9
Seiten 3237–3244
Nachgewiesen in Web of Science
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