Defect studies of hydrogen-loaded thin Nb films
Čížek, J.; Procházka, I.; Brauer, G.; Anwand, W.; Mücklich, A.; Kirchheim, R.; Pundt, A.; Bähtz, C.; Knapp, M.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 02.2006 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0169-4332 KITopen-ID: 1000084572 |
| Erschienen in | Applied surface science |
| Verlag | Elsevier |
| Band | 252 |
| Heft | 9 |
| Seiten | 3237–3244 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions Web of Science |